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Analyse microstructurale des couches minces

IEM, Montpellier, 29-30 Mai 2012

La Mission des Ressources et Compétences Technologiques et la formation permanente de la délégation Midi-Pyrénées du CNRS ont organisé cet atelier à l’IEM de Montpellier les 29 et 30 Mai 2012.

Le programme de cette formation est à consulter ici .

Le lecteur peut télécharger les présentations suivantes :

Microscopie à force atomique – Eric FINOT, ICB, Dijon

Analyse de porosité par réflectométrie X - Arie VAN DER LEE, IEM, Montpellier

SIMS et ToF-SIMS : Principes et applications - Yves DE PUYDT, BIOPHY Research, Fuveau

Caractérisation d’empilements de couches minces par ellipsométrie spectroscopique – Jean-Philippe PIEL

Porosimétrie de couches minces par ellipsométrie et microbalance à quartz – Vincent ROUESSAC, IEM, Montpellier